ระบบวิชันซิสเต็ม | ซีรี่ส์ BE-K | แหล่งกำเนิดแสงแบบโคแอกเซียล | DISORIC

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德國DISORIC大廠■第一通用公司|總代理18年|備有PLC工程技術的實戰工程|機器視覺系統|BE-K系列|同軸光源

主要優勢包括觸發器反向和亮度調整功能。同軸燈適合使用24 VDC 電源進行操作,並且在寬電壓範圍內具有亮度穩定性

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ระบบวิชันซิสเต็ม | ซีรี่ส์ BE-K | แหล่งกำเนิดแสงแบบโคแอกเซียล | DISORIC

  • BE-K同軸燈用於對檢查物體進行無影的軸心照明。表面反射能夠可靠地抑制。它們有各種應用相關的色溫可供選擇,且主要優勢包括觸發器反向和亮度調整功能。同軸燈適合使用24 VDC 電源進行操作,並且在寬電壓範圍內具有亮度穩定性。
  • 應用:螺絲尺寸缺陷偵測,IC定位字元偵測,電路板焊錫檢查,顯微鏡照明等。

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優勢和特點

同軸燈用於對檢查物體進行無影的軸心照明。表面反射能夠可靠地抑制。它們有各種應用相關的色溫可供選擇,且主要優勢包括觸發器反向和亮度調整功能。同軸燈適合使用24 VDC 電源進行操作,並且在寬電壓範圍內具有亮度穩定性。
同軸光源
同軸光源
  • 整合式電流控制
  • 在整個電壓範圍內光強度恆定
  • 均勻照明
  • 外部觸發輸入端
  • 高效率
  • 光強度可調
  • 堅固的金屬外殼

同軸光源可以消除物體表面不平整而引起的陰影,從而減少干擾。

其特點如下

•採用分光鏡設計,可減少光損耗、提高成像的清晰度。

•可均勻照射物體表面。

•同軸光源可應用於反射度極高的物體表面刮傷檢測(如金屬、玻璃、膠片、晶片等)晶及矽晶圓的破損偵測、Mark 點定位、條碼辨識等場景。

同軸光透過半透光鏡,將光線投射至物體上。

從物體反射的光穿過半透光鏡進入相機光圈;另一方面,漫反射的光則是以輻射方式經過鏡頭。藉由改變相機與物體之間的距離,可控制此作用。

同軸光適用於在反光物體的邊緣產生高對比度。

秘訣:此作用可透過相機到物體的距離來控制。

典型應用

應用:玻璃和塑膠膜輪廓和定位檢測,IC字元及定位檢測,晶片表面雜質和刮痕檢測等

應用範例:

主要應用場景
  • 高反光表面缺陷檢測:適用於檢測晶圓、金屬、玻璃、薄膜膠捲等易反光的表面,例如尋找表面的刮痕或凹點。
  • 精確尺寸測量:用於高精度的尺寸量測,例如汽車零件、電子元件、藥錠、連接器 PIN 腳間距,以及精密螺絲的牙距等。
  • 標記點和符號識別:用於定位 Mark 點、條碼識別和刻印字符的檢測,例如在 PCB 板陣列或晶圓上。
  • 電子零件與半導體檢測:用於檢測晶圓、矽晶片、玻璃基板、濾光片等,檢查其破損或對位記號的辨識。
  • 醫療與生物科技:在醫療領域可用於檢測醫療粉包、玻璃瓶等,在生物科技中可用於激發螢光等應用。 
應用優勢
  • 高對比度:能夠在反光表面產生高對比度,清晰顯示出物體輪廓,並凸顯邊緣細節。
  • 均勻照明:提供均勻的照明,有效減少陰影和反光炫光,使圖像更清晰,提高檢測系統的準確性。
  • 精確對焦:通過特殊的光學設計,能達到高精度的成像效果,不受漫射影響,適用於需要精確對焦的場合。 

 

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LED光源的類型和特點

1.環形光源

提供不同照射角度、不同顏色組合,更能突顯物體的三維資訊;高密度LED陣列,高亮度;多種緊湊設計,節省安裝空間;解決對角照射陰影問題;可選配漫射板導光,光線均勻擴散。應用於PCB基板檢測、IC元件檢測、顯微鏡照明、液晶校正、塑膠容器檢測、積體電路印字檢查。

2、背光源

以高密度LED陣列面提供高強度背光照明,能突顯物體。的外形輪廓特徵,特別適合作為顯微鏡的載物台。紅白兩用背光源、紅藍多用背光源,能調配出不同顏色,滿足不同被測物多色要求。應用於機械零件尺寸的測量、電子元件、IC的外型檢測、底片污點偵測、透明物體刮痕檢測等。

3.條形光源

為較大方形結構受測物的首選光源;顏色可依需求搭配,自由組合;照射角度與安裝隨意可調。應用於金屬表面檢查,影像掃描,表面裂縫檢測,LCD面板檢測等。

4.同軸光源

可消除物體表面不平整所造成的陰影,進而減少干擾;其部分採用分光鏡設計,減少光損失,提高成像清晰度,均勻照射物體表面。最適合用於反射度極高的物體,如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的刮傷檢測,晶片和矽晶片的破損檢測,Mark點定位,包裝條碼識別。

5.AOI專用光源

是不同角度的三色光照明,照射可凸顯焊錫三維資訊;外加漫射板導光,減少反光;不同角度組合;可應用於電路板焊錫檢測。

6.球積分光源

具有積分效果的半球面內壁,均勻反射從底部360度發射出的光線,使整個影像的照度十分均勻。應用於曲面,表面凹凸,弧形表面檢測,或金屬、玻璃表面反光較強的物體表面檢測。

7.線形光源

超高亮度,採用柱面透鏡聚光,適用於各種流水線連續偵測場合。陣相機照明專用,AOI專用。

8、點光源

高功率LED,體積小,發光強度高;是光纖鹵素燈的替代品,特別適合作為鏡頭的同軸光源等;高效率散熱裝置,大幅提升光源的使用壽命。適合遠心鏡頭使用,用於晶片檢測、Mark點定位、晶片及液晶玻璃底基校正。

9.組合條形光源

四邊配置條形光,每邊照明獨立可控;可依被測物要求調整所需照明角度,適用性廣。應用於PCB基板檢測、IC元件檢測、焊錫檢查、Mark點定位、顯微鏡照明、包裝條碼照明、球形物體照明等。

10.對位光源

是全自動電路板印刷機對位的專用光源。對位光源速度快、視野大、精度高、體積小,方便偵測整合、亮度高、選配輔助環形光源。

機器視覺是什麼?

視覺辨識原理?

機器視覺(英語:Machine vision,簡稱「MV」) 是指用於自動檢測、分析的一種基於成像技術的方法,在工業自動化檢測、過程控制和機器人引導等領域得到了廣泛應用。機器視覺涵蓋了多種技術、軟體和硬體產品、整合系統、動作、方法和專業知識。機器視覺作為系統工程學科的一種,被認為不同於屬於電腦科學的電腦視覺。它嘗試以新的方法整合現有技術,並應用於實際問題解決。機器視覺的整個過程包括規劃需求和專案細節,然後建立解決方案。在系統執行時,首先是成像,隨後是對圖像的自動圖像分析和所需資訊的提取。

主要應用領域
機器視覺技術廣泛應用於工業生產和自動化場景:

  • 自動光學檢測 (AOI):檢測產品表面的缺陷、瑕疵或錯誤組裝。
  • 品質控制:確保產品尺寸、形狀或顏色符合標準。
  • 定位與導引:引導機器人精確抓取、放置或組裝零件。
  • 識別:讀取條碼、QR碼、文字或進行物件辨識。
  • 測量:對物體進行精確的非接觸式尺寸測量。

與電腦視覺 (Computer Vision) 的區別

雖然兩者密切相關且技術重疊,但側重點不同:
機器視覺:更注重實際應用於工業自動化,強調系統的整合性、穩定性和效率,以解決特定的工程問題。
電腦視覺:更側重於理論研究和演算法開發,是人工智慧的一個分支,旨在使電腦能夠「理解」影像內容,模擬人類複雜的視覺認知能力。

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AOI檢測

自動光學檢查(英語:Automated Optical Inspection,簡稱AOI),為高速高精度光學影像檢測系統,運用機器視覺做為檢測標準技術,作為改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點,應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管,以至國防、民生、醫療、環保、電力…等領域。

自動光學檢查是工業製程中常見的代表性手法,利用光學儀器取得成品的表面狀態,再以電腦影像處理技術來檢出異物或圖案異常等瑕疵,因為是非接觸式檢查,所以可在中間工程檢查半成品。高精度光學影像檢測系統,包含量測鏡頭技術、光學照明技術、定位量測技術、電子電路測試技術、影像處理技術及自動化技術應用等領域,其開發應用不但符合高科技產業發展需求,其技術層面更可擴展至國防軍事工業,舉凡兵工武器製造、夜視作戰系統、戰略地形形貌之分析與研判等,都與此影像技術息息相關。

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