• การตรวจจับข้อบกพร่องบนพื้นผิวตรวจจับรอยขีดข่วน รอยบุบ คราบ หรือข้อบกพร่องอื่นๆ บนพื้นผิวโลหะหรือวัตถุโปร่งใส (เช่น แก้ว ฟิล์ม)
• การแกะสลักและการอ่านเครื่องหมายด้วยเลเซอร์แสดงการแกะสลักบนพื้นผิวหรือเครื่องหมายเลเซอร์อย่างชัดเจน เช่น การอ่านเครื่องหมายเลเซอร์บนผลิตภัณฑ์
• การทดสอบไมโครอิเล็กทรอนิกส์ในด้านต่างๆ เช่น MicroLED จะใช้ในการตรวจสอบข้อบกพร่องเล็กๆ น้อยๆ
• การควบคุมคุณภาพคอนทราสต์ที่สูงช่วยเพิ่มข้อบกพร่องบนพื้นผิวเพื่อการควบคุมคุณภาพ 

ประเภทและคุณลักษณะของแหล่งกำเนิดแสง LED

1. แหล่งกำเนิดแสงแบบวงแหวน

นำเสนอมุมส่องสว่างและการผสมผสานสีที่หลากหลายเพื่อเน้นข้อมูลสามมิติของวัตถุได้อย่างชัดเจนยิ่งขึ้น ชุดไฟ LED ความหนาแน่นสูงเพื่อความสว่างสูง การออกแบบที่กะทัดรัดหลากหลายรูปแบบเพื่อประหยัดพื้นที่ติดตั้ง แก้ปัญหาเงาจากการส่องสว่างในแนวทแยง แผ่นกระจายแสงเสริมเพื่อการกระจายแสงที่สม่ำเสมอ การใช้งานประกอบด้วยการตรวจสอบแผ่น PCB การตรวจสอบส่วนประกอบ IC การส่องสว่างด้วยกล้องจุลทรรศน์ การสอบเทียบ LCD การตรวจสอบภาชนะพลาสติก และการตรวจสอบเครื่องหมายวงจรรวม

2. ไฟแบ็คไลท์

ไฟแบ็คไลท์ความเข้มสูงพร้อมอาร์เรย์ LED ความหนาแน่นสูง ช่วยเน้นรูปร่างและรูปทรงของวัตถุได้อย่างมีประสิทธิภาพ จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับใช้เป็นแท่นกล้องจุลทรรศน์ ไฟแบ็คไลท์แบบสองการใช้งาน (แดง/ขาว) และแบบหลายการใช้งาน (แดง/น้ำเงิน) สามารถกำหนดค่าให้สร้างสีต่างๆ เพื่อตอบสนองความต้องการหลายสีของวัตถุที่วัดได้ การใช้งานประกอบด้วย การวัดขนาดของชิ้นส่วนเครื่องกล การตรวจสอบรูปร่างของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์และไอซี การตรวจจับคราบฟิล์ม และการตรวจจับรอยขีดข่วนบนวัตถุโปร่งใส

3. แหล่งกำเนิดแสงแบบแท่ง

เป็นแหล่งกำเนิดแสงที่เหมาะสำหรับวัตถุทดสอบที่มีโครงสร้างสี่เหลี่ยมขนาดใหญ่ สามารถปรับแต่งสีและผสมผสานได้อย่างอิสระตามความต้องการ มุมส่องสว่างและการติดตั้งสามารถปรับได้ การใช้งานประกอบด้วยการตรวจสอบพื้นผิวโลหะ การสแกนภาพ การตรวจจับรอยแตกบนพื้นผิว และการตรวจสอบแผง LCD

4. แหล่งกำเนิดแสงแบบโคแอกเซียล

สามารถขจัดเงาที่เกิดจากพื้นผิววัตถุที่ไม่เรียบ จึงช่วยลดการรบกวน ส่วนหนึ่งใช้การออกแบบตัวแยกลำแสงเพื่อลดการสูญเสียแสง เพิ่มความคมชัดของภาพ และให้แสงสว่างสม่ำเสมอบนพื้นผิววัตถุ เหมาะที่สุดสำหรับการตรวจจับรอยขีดข่วนบนวัตถุที่มีการสะท้อนแสงสูง เช่น โลหะ แก้ว ฟิล์ม และพื้นผิวเวเฟอร์ การตรวจจับความเสียหายของเวเฟอร์และเวเฟอร์ซิลิคอน การกำหนดตำแหน่งจุดมาร์ค และการจดจำบาร์โค้ดบรรจุภัณฑ์

5. แหล่งกำเนิดแสงเฉพาะ AOI

มีไฟส่องสว่างสามสีจากมุมต่างๆ ซึ่งสามารถเน้นข้อมูลสามมิติของการบัดกรีได้ แผงกระจายแสงเพิ่มเติมจะนำแสงและลดการสะท้อน การผสมผสานมุมที่แตกต่างกัน ใช้ได้กับการตรวจสอบการบัดกรีแผงวงจร

6. แหล่งกำเนิดแสงแบบทรงกลม

ผนังด้านในทรงครึ่งวงกลม ผสานรวมแสงที่เปล่งออกมาจากด้านล่างได้ 360 องศาอย่างสม่ำเสมอ ส่งผลให้ได้แสงสว่างที่สม่ำเสมอทั่วทั้งภาพ เหมาะสำหรับการตรวจสอบพื้นผิวโค้ง พื้นผิวไม่เรียบ พื้นผิวรูปโค้ง หรือพื้นผิวที่มีการสะท้อนแสงสูง เช่น โลหะและกระจก

7. แหล่งกำเนิดแสงแบบเส้นตรง

ความสว่างสูงพิเศษ ใช้เลนส์ทรงกระบอกเพื่อการโฟกัสแสง เหมาะสำหรับการตรวจจับอย่างต่อเนื่องในสายการผลิต ออกแบบมาเพื่อการส่องสว่างของกล้องแบบอาร์เรย์และการใช้งาน AOI (การตรวจสอบด้วยแสงอัตโนมัติ)

8. แหล่งกำเนิดแสงแบบจุด

หลอดไฟ LED กำลังสูง ขนาดเล็กแต่ให้ความเข้มแสงสูง ใช้แทนหลอดฮาโลเจนใยแก้วนำแสง เหมาะอย่างยิ่งสำหรับใช้เป็นแหล่งกำเนิดแสงแบบโคแอกเซียลสำหรับเลนส์ อุปกรณ์ระบายความร้อนประสิทธิภาพสูงช่วยยืดอายุการใช้งานของแหล่งกำเนิดแสงได้อย่างมาก เหมาะสำหรับเลนส์เทเลเซนทริก ใช้สำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์ การกำหนดตำแหน่งจุดมาร์ค และการสอบเทียบแผ่นเวเฟอร์และแผ่นกระจก LCD

9. แหล่งกำเนิดแสงแบบแท่งรวม

ด้วยไฟส่องสว่างแบบแถบสี่ด้าน ทำให้สามารถควบคุมการส่องสว่างของแต่ละด้านได้อย่างอิสระ สามารถปรับมุมการส่องสว่างที่ต้องการได้ตามวัตถุที่จะทดสอบ ทำให้ใช้งานได้อย่างแพร่หลาย การใช้งานประกอบด้วยการตรวจสอบพื้นผิว PCB, การตรวจสอบส่วนประกอบ IC, การตรวจสอบจุดบัดกรี, การกำหนดตำแหน่งจุดมาร์ค, การส่องสว่างด้วยกล้องจุลทรรศน์, การส่องสว่างบาร์โค้ดบรรจุภัณฑ์ และการส่องสว่างวัตถุทรงกลม

10. แหล่งกำเนิดแสงการจัดตำแหน่ง

เป็นแหล่งกำเนิดแสงเฉพาะสำหรับการจัดตำแหน่งบนเครื่องพิมพ์แผงวงจรอัตโนมัติเต็มรูปแบบ แหล่งกำเนิดแสงสำหรับการจัดตำแหน่งนี้ทำงานรวดเร็ว มีมุมมองภาพกว้าง ความแม่นยำสูง ขนาดเล็ก สะดวกต่อการตรวจจับและผสานรวม มีความสว่างสูง และสามารถติดตั้งแหล่งกำเนิดแสงวงแหวนเสริมได้