• 表面缺陷檢測：偵測金屬表面或透明物體（如玻璃、薄膜）上的刮痕、凹痕、汙漬或其他缺陷。
• 刻紋和雷射標記讀取：清晰顯示表面的刻紋或雷射標記，例如讀取產品上的雷射標記。
• 微電子檢測：在 MicroLED 等領域，用來檢查微小缺陷。
• 品質控制：利用其高對比度強化表面缺陷，用於品質控制。 

LED 광원의 종류와 특성

1. 링 광원

다양한 조명 각도와 색상 조합을 통해 물체의 3차원 정보를 더욱 선명하게 강조합니다. 고밀도 LED 어레이를 통해 높은 밝기를 구현하고, 다양한 콤팩트 디자인으로 설치 공간을 절약합니다. 대각선 조명으로 인한 그림자 문제를 해결하고, 균일한 빛 확산을 위한 확산판(옵션)을 제공합니다. PCB 기판 검사, IC 부품 검사, 현미경 조명, LCD 교정, 플라스틱 용기 검사, 집적 회로 마킹 검사 등에 활용됩니다.

2. 백라이트

고밀도 LED 어레이를 사용한 고강도 백라이트는 물체의 모양과 윤곽을 효과적으로 강조하여 현미경 스테이지로 특히 적합합니다. 이중 용도(적색/백색) 및 다용도(적색/청색) 백라이트는 다양한 측정 대상의 다색 요구 사항을 충족하도록 다양한 색상을 생성하도록 구성할 수 있습니다. 기계 부품의 치수 측정, 전자 부품 및 IC의 형상 검사, 필름 얼룩 감지, 투명 물체의 스크래치 감지 등에 활용될 수 있습니다.

3. 바 광원

대형 정사각형 구조의 시험 대상에 적합한 광원입니다. 색상은 요구 사항에 따라 맞춤 설정 및 자유롭게 조합할 수 있으며, 조명 각도와 설치도 조절 가능합니다. 금속 표면 검사, 이미지 스캐닝, 표면 균열 감지, LCD 패널 검사 등에 활용됩니다.

4. 동축 광원

불균일한 물체 표면으로 인해 발생하는 그림자를 제거하여 간섭을 줄일 수 있습니다. 또한, 일부 부품은 빔 스플리터 설계를 채택하여 빛 손실을 줄이고, 이미지 선명도를 향상시키며, 물체 표면을 균일하게 비춥니다. 금속, 유리, 필름, 웨이퍼 표면과 같이 반사율이 높은 물체의 스크래치 감지, 웨이퍼 및 실리콘 웨이퍼의 손상 감지, 마크 포인트 위치 지정, 포장 바코드 인식에 가장 적합합니다.

5. AOI 전용 광원

다양한 각도에서 3색 조명을 비추어 솔더의 3차원 정보를 강조할 수 있습니다. 추가 확산 보드가 빛을 안내하고 반사를 줄입니다. 다양한 각도 조합이 가능하며 회로 기판 솔더 검사에 적용 가능합니다.

6. 구면적분광원

반구형 내벽은 집적 효과를 통해 하단에서 방출되는 빛을 360도 균일하게 반사시켜 전체 이미지에 걸쳐 매우 균일한 조명을 제공합니다. 곡면, 고르지 않은 표면, 호형 표면 또는 금속이나 유리와 같이 반사율이 높은 표면 검사에 적합합니다.

7. 선형 광원

원통형 렌즈를 사용하여 빛을 모으는 초고휘도 제품으로, 생산 라인의 다양한 연속 감지 용도에 적합합니다. 어레이 카메라 조명 및 AOI(자동 광학 검사) 용도에 적합합니다.

8. 점광원

고출력 LED는 크기가 작고 광도가 높습니다. 광섬유 할로겐 램프를 대체하며, 특히 렌즈의 동축 광원으로 적합합니다. 고효율 방열 장치는 광원의 수명을 크게 연장합니다. 웨이퍼 검사, 마크 포인트 위치 조정, 웨이퍼 및 LCD 유리 기판 교정에 사용되는 텔레센트릭 렌즈에 적합합니다.

9. 복합 바 광원

4면 스트립 조명은 각 면의 조명을 독립적으로 제어할 수 있으며, 검사 대상에 따라 필요한 조명 각도를 조절할 수 있어 폭넓게 적용 가능합니다. PCB 기판 검사, IC 부품 검사, 솔더 접합부 검사, 마크 포인트 위치 지정, 현미경 조명, 패키징 바코드 조명, 구형 물체 조명 등에 활용 가능합니다.

10. 정렬 광원

전자동 회로 기판 인쇄기의 정렬 전용 광원입니다. 정렬 광원은 빠르고, 시야가 넓으며, 정밀도가 높고, 크기가 작으며, 감지 및 통합이 편리하고, 밝기가 높으며, 보조 링 광원을 장착할 수 있습니다.