FGT는 미래에 최선의 선택이라고 생각합니다.
FGT의 시스템 통합 디자이너
머신 비전 시스템 | BE-F 시리즈 | 백라이트 | DISORIC
- 區域照明用於照明背景和檢查輪廓,因此可用於攝影機俯視圖,以對必須監視其輪廓的無數物體進行輪廓檢測。照明系統有所有應用相關的色溫可供選擇,且可用於尺寸從30 x 30 mm 到200 x 200 mm 的物體。
- 採用高密度LED陣列設計,可提供高強度的背光照明,並突顯物體的外形輪廓特徵,特別適合作為顯微鏡的載物台。背光源分為多種,如紅白兩用背光源、紅藍兩用背光源等。透過調配出不同的顏色,可滿足不同被測物的多色要求。
可應用在機械零件尺寸的測量、電子元件的偵測、晶片的外形偵測、底片污點的偵測、透明物體的刮痕檢測等場景。
藉由FGT工程部開發團隊具備AI(人工智慧),BI(大數據)等人才,快速協助您打造AI+AOI系統方案
無須聘請專業資工人才,專案委託打造手機化機器視覺平台的推手
優勢和特點
- 高照明強度
- 最小邊緣範圍
- 均勻的照明區域
- 非常緊湊的型式
- 高防護等級IP 67
- 堅固的結構
背光源外部可閃光
- 高過電流係數
- 用於檢查快速移動目標的脈衝運行
- 極其明亮,用於高景深
- 透過智慧熱管理實現長使用壽命
- 均勻的照明區域
- 高防護等級IP 67
- 堅固的金屬外殼


機器視覺背光源的特性:
1.具有更好的均勻性
2.光線柔和自然,亮度高
3.可客製多色背光,適用於特殊場合
4.高密度LED分佈於光源底部
機器視覺光源使用注意事項
在高溫環境下使用LED縮短其壽命
*特別是紅色LED,其溫度每提升1度,亮度將減弱1%。
*在高溫下長時間使用將逐漸老化並消減亮度。
如何正確使用光源,防止因自身發熱而造成的老化和亮度下降
■以盡量低的亮度等級使用光源
在適合的亮度下,將光源的等級降低以減少電流量,因此所發出的熱量少,避免亮度損耗。如長期使用導致亮度減小,可逐漸提高亮度等級。
■可安裝風扇或提供空氣流以散熱,降低溫度以減緩亮度的衰減。
安裝風扇——提供空氣流—–安裝散熱性強的托架。
■可僅在成像時開啟光源或使用頻閃控制器配套。
連續多次開關LED光源,對其使用壽命幾乎沒有影響。當LED作為頻閃光源或僅根據外部訊號需求而開啟時,光源亮度穩定且LED壽命將明顯延長。
機器視覺光源選型注意事項
1.了解系統結構及運作的需求,確定相機、光源、被測物的空間結構關係。確定的參數有:視場(FOV) ,工作距離(WD)。
2.空間結構有:直射,側射,背部照射。
- 直射結構的光源一-部分環形光源,同軸光源,園頂光源。
- 側射結構的光源一-部分環形光源,條形光源,線光源,點光源。
- 背部照射一-方形背光源,條形背光源,迴形背光源。
3.對被測物品的觀察分析,曲面檢測宜用圓頂光源,光滑平面宜用同軸光源,粗糙平面宜用明視場光源,透光性好的物體可以用紅外光源。分清背部(我們不需要檢測的)是什麼顏色,前景(我們要檢測的)是什麼顏色。
4.好的光源能提高影像的對比一–背景與前景很清楚,前景顏色多變化宜用彩色光源或白色光源。
LED光源的類型和特點
1.環形光源
提供不同照射角度、不同顏色組合,更能突顯物體的三維資訊;高密度LED陣列,高亮度;多種緊湊設計,節省安裝空間;解決對角照射陰影問題;可選配漫射板導光,光線均勻擴散。應用於PCB基板檢測、IC元件檢測、顯微鏡照明、液晶校正、塑膠容器檢測、積體電路印字檢查。
2、背光源
以高密度LED陣列面提供高強度背光照明,能突顯物體。的外形輪廓特徵,特別適合作為顯微鏡的載物台。紅白兩用背光源、紅藍多用背光源,能調配出不同顏色,滿足不同被測物多色要求。應用於機械零件尺寸的測量、電子元件、IC的外型檢測、底片污點偵測、透明物體刮痕檢測等。
3.條形光源
為較大方形結構受測物的首選光源;顏色可依需求搭配,自由組合;照射角度與安裝隨意可調。應用於金屬表面檢查,影像掃描,表面裂縫檢測,LCD面板檢測等。
4.同軸光源
可消除物體表面不平整所造成的陰影,進而減少干擾;其部分採用分光鏡設計,減少光損失,提高成像清晰度,均勻照射物體表面。最適合用於反射度極高的物體,如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的刮傷檢測,晶片和矽晶片的破損檢測,Mark點定位,包裝條碼識別。
5.AOI專用光源
是不同角度的三色光照明,照射可凸顯焊錫三維資訊;外加漫射板導光,減少反光;不同角度組合;可應用於電路板焊錫檢測。
6.球積分光源
具有積分效果的半球面內壁,均勻反射從底部360度發射出的光線,使整個影像的照度十分均勻。應用於曲面,表面凹凸,弧形表面檢測,或金屬、玻璃表面反光較強的物體表面檢測。
7.線形光源
超高亮度,採用柱面透鏡聚光,適用於各種流水線連續偵測場合。陣相機照明專用,AOI專用。
8、點光源
高功率LED,體積小,發光強度高;是光纖鹵素燈的替代品,特別適合作為鏡頭的同軸光源等;高效率散熱裝置,大幅提升光源的使用壽命。適合遠心鏡頭使用,用於晶片檢測、Mark點定位、晶片及液晶玻璃底基校正。
9.組合條形光源
四邊配置條形光,每邊照明獨立可控;可依被測物要求調整所需照明角度,適用性廣。應用於PCB基板檢測、IC元件檢測、焊錫檢查、Mark點定位、顯微鏡照明、包裝條碼照明、球形物體照明等。
10.對位光源
是全自動電路板印刷機對位的專用光源。對位光源速度快、視野大、精度高、體積小,方便偵測整合、亮度高、選配輔助環形光源。
機器視覺是什麼?
視覺辨識原理?
機器視覺(英語:Machine vision,簡稱「MV」) 是指用於自動檢測、分析的一種基於成像技術的方法,在工業自動化檢測、過程控制和機器人引導等領域得到了廣泛應用。機器視覺涵蓋了多種技術、軟體和硬體產品、整合系統、動作、方法和專業知識。機器視覺作為系統工程學科的一種,被認為不同於屬於電腦科學的電腦視覺。它嘗試以新的方法整合現有技術,並應用於實際問題解決。機器視覺的整個過程包括規劃需求和專案細節,然後建立解決方案。在系統執行時,首先是成像,隨後是對圖像的自動圖像分析和所需資訊的提取。
主要應用領域
機器視覺技術廣泛應用於工業生產和自動化場景:
- 自動光學檢測 (AOI):檢測產品表面的缺陷、瑕疵或錯誤組裝。
- 品質控制:確保產品尺寸、形狀或顏色符合標準。
- 定位與導引:引導機器人精確抓取、放置或組裝零件。
- 識別:讀取條碼、QR碼、文字或進行物件辨識。
- 測量:對物體進行精確的非接觸式尺寸測量。
與電腦視覺 (Computer Vision) 的區別
雖然兩者密切相關且技術重疊,但側重點不同:
機器視覺:更注重實際應用於工業自動化,強調系統的整合性、穩定性和效率,以解決特定的工程問題。
電腦視覺:更側重於理論研究和演算法開發,是人工智慧的一個分支,旨在使電腦能夠「理解」影像內容,模擬人類複雜的視覺認知能力。
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自動光學檢查(英語:Automated Optical Inspection,簡稱AOI),為高速高精度光學影像檢測系統,運用機器視覺做為檢測標準技術,作為改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點,應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管,以至國防、民生、醫療、環保、電力…等領域。
自動光學檢查是工業製程中常見的代表性手法,利用光學儀器取得成品的表面狀態,再以電腦影像處理技術來檢出異物或圖案異常等瑕疵,因為是非接觸式檢查,所以可在中間工程檢查半成品。高精度光學影像檢測系統,包含量測鏡頭技術、光學照明技術、定位量測技術、電子電路測試技術、影像處理技術及自動化技術應用等領域,其開發應用不但符合高科技產業發展需求,其技術層面更可擴展至國防軍事工業,舉凡兵工武器製造、夜視作戰系統、戰略地形形貌之分析與研判等,都與此影像技術息息相關。
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